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能夠影響光譜儀譜線強度的因素

點擊次數(shù):1377  更新時間:2022-12-28

X射線熒光光譜法的定量分析是以熒光X射線的強度為依據(jù)的,因此,一切影響X射線熒光光譜儀射線強度的因素都必將影響分析的準確度。

1、基體效應

基體效應包括吸收效應及增強效應兩種效應。

吸收效應包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用入射X射線激發(fā)樣品時,它不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內部,同樣,樣品內部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線,也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。顯然,在穿透過程中,這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使其強度減弱,入射X射線強度的減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率,而X射線熒光強度的降低則直接影響分析準確度。

若入射X射線使某基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長稍短于分析元素的吸收邊,它便會使分析元素ipA發(fā)產(chǎn)生二次熒光X射線,從而使分析元素的熒光X射線強度增強,這就是墓體的增強效應。

如果吸收效應占主導地位,則分析結果偏低,如果增強效應占主導地位,則分析結果偏高。

2、不均勻效應

不均勻效應系指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強度的影響。對于粉末樣品,大顆粒吸收效應強,小顆粒吸收效應弱,因此,要求顆粒粒度盡量小一些,以減少對X射線的吸收。測員短波X射線時,一般要求粒度在250目以上,‘測量波長大于0.2nm的長波x射線時,則要求粒度在400目以上。

固體塊狀試樣的喪而一定要磨平拋光,對粉末試樣則要求壓實并使表面平滑。粗糙表面會使熒光X射線的強度明顯下降。測量短波X射線時,要求光潔度在1005m左右,測量長波X射線時,光潔度為20-50Mm。

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